廣東三恩時科技有限公司
GUANGDONG THREENH TECHNOLOGY CO.，LTD.
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三恩時KS-520 是系列旗艦全能款，集 12 種全口徑、熒光測(cè)量、微小部位檢測(cè)於(yú)一體。重複性 ΔEab≤0.025、台間(jiān)差 ΔEab≤0.3，搭載 UV 光源 + 納米級分光技術，一級計量認證保障權威。12 種口徑含 1*3mm 微小部位專用規格，适配平面、曲面、微小零件等全形态樣品，支持多系統協同與雲端數據管理，滿足塑膠電子、紡織印染、精密制造等行業複雜測(cè)色需求。
1. 全規格形态适配
12 種全規格口徑（含 1*3mm 微小款），具體包括3mm平台+3mm尖嘴+5mm平台+5mm尖嘴+6mm平台+6mm尖嘴+10mm平台+10mm尖嘴+11mm平台+11mm尖嘴+1*3mm平台+1*3尖嘴，從(cóng)常規樣品到精密微小部位，平面、曲面、凹凸表面等不同形态樣品全覆蓋(gài)。
2.全類型樣品兼容
UV 光源 + 全光譜 LED，既能準確(què)測(cè)量常規材料，也能輕松應對熒光樣品，适用範圍更廣。
3.多種顔色測(cè)量空間，多種觀(guān)測(cè)光源
提供CIE LAB,XYZ,Yxy,LCh,CIE LUV,s-RGB,HunterLab,βxy,DIN Lab99顔色空間，以及D65,A,C,D50,D55,D75, F1,F2(CWF),F3,F4,F5, F6,F7(DLF),F8 ,F9,F10(TPL5),F11(TL84),F12(TL83/U30),U35,NBF,ID50,ID65多種觀測光源，可以滿足不同測量條件下的特殊測量需求。
1.高精度測(cè)量表現，數據準確(què)穩定
重複性 ΔEab≤0.025、台間(jiān)差 ΔEab≤0.3，確(què)保批次生産(chǎn)的顔色一緻性。
採(cǎi)用雙光路系統設計，通過監測(cè)光源能量波動，有效減少測(cè)量幹擾，進一步提升穩定性與重複性。
2.國(guó)際(jì)通用的D/8 SCI/SCE合成技術
遵循 D/8 照明觀測(cè)條件及 SCI/SCE 合成技術，覆蓋塗料、紡(fǎng)織、塑膠等行業的色彩管理需求，符合 CIE、ISO、ASTM 等國際标準。
3.權威計量認證
保證一級計量認證合格，每台儀器出廠(chǎng)均通過權威檢定，測(cè)量數據溯源至國家計量院，保證測(cè)試結果的權威性。
1.核心光學組件
矽光電二極管陣列：
雙列 18 組矽光電二極管陣列，大面積設計強光不飽(bǎo)和、弱光靈敏度高，光譜響應範圍覆蓋 400-700nm，間隔 10nm，反射率測定範圍 0-200%，準確(què)捕捉可見光信息。
納米集成光譜器件：
具備(bèi)納米級分光能力，可準確(què)分離不同波長光線，有力保障各波段數據精度。
全波段均衡 LED 光源+UV光源：
儀器照明光源覆蓋 400 - 700nm 全光譜，在可見光範圍内有充足的光譜分布，避免白光 LED 的光譜缺失。同時配備 UV 光源，熒光材料也可輕松測量，保證瞭(le)儀器測量結果的準確(què)性。
1.人體工程學設計(jì)和易測(cè)裝置
基於(yú)人機工程學的外觀設計，大尺寸觸摸屏搭配優化的握持部位與測(cè)量按鈕，适配不同使用習慣。
2.精準定位與校準
穩定片+攝像頭取景定位，可清楚觀(guān)察被測(cè)量區域
穩定片 + 攝像頭雙重定位系統，通過攝像頭實時取景，能準確(què)判斷出物體被測(cè)部位是否爲目标中心，精準定位目标區(qū)域，降低測(cè)量誤差。
非接觸式自動白闆校驗
支持非接觸(chù)式自動(dòng)白闆校驗，專業級标準白闆反射率R%≥95%表面均勻性好，穩定性高，可獲得重複的準確數據。
3.多平台兼容與數據交互
支持 Android、iOS、Windows、鴻蒙等多系統，用戶可通過手機 APP、微信小程序或電(diàn)腦直接操作，實現跨設備(bèi)數據同步。
1.雲端存儲與協同管理
支持 APP、小程序同步存儲(chǔ)海量色彩數據（标樣存儲(chǔ)達(dá)500條），建立私人雲端數據庫，無需攜帶色卡，随時随地都能分享給合作夥伴。
2.專業顔色管理軟件
配套品質管理軟件支持Android,IOS,Windows,微信小程序,鴻(hóng)蒙多系統(tǒng)及配色雲平台，該軟件可生成測(cè)試報(bào)告、對比色差數據、定制化顔色管理流程，滿足工業級别的品質控制需求。
| 産品型号 | KS-520分光色差儀 |
| 照明方式 | D/8 (漫射照明,8°方向接收),SCI/SCE(包含鏡面反射光/去除鏡面反射光),符合标準CIE No.15,GB/T 3978,GB 2893,GB/T 18833,ISO7724-1,ASTM E1164,DIN5033 Teil7 |
| 特性 | 採用雙路矽光電二極管陣列,用於塑膠電子、油漆油墨、紡織服裝印染、印刷、陶瓷等行業的色差品質管控；包含UV可用於熒光樣品測量。 |
| 照明光源 | 組合全光譜LED光源,UV光源 |
| 積分球尺寸 | Φ40mm |
| 分光方式 | 納米集成光譜器件 |
| 感應器 | 矽光電二極管陣列（雙列18組） |
| 測量波長範圍 | 400-700nm |
| 波長間隔 | 10nm |
| 測量口徑 | 十二口徑:3mm平台+3mm尖嘴+5mm平台+5mm尖嘴+6mm平台+6mm尖嘴+10mm平台+10mm尖嘴+11mm平台+11mm尖嘴+1*3mm平台+1*3尖嘴 |
| 含光方式 | 同時測試SCI/SCE |
| 顔色空間 | CIE LAB,XYZ,Yxy,LCh,CIE LUV,s-RGB,HunterLab,βxy,DIN Lab99 |
| 色差公式 | ΔE*ab,ΔE*uv,ΔE*94,ΔE*cmc(2:1),ΔE*cmc(1:1),ΔE*00,DINΔE99,ΔE(Hunter) |
| 其它色度指标 | 光譜反射率,WI(ASTM E313,CIE/ISO,AATCC,Hunter,Taube,Berger,Stensby),YI(ASTM D1925,ASTM 313),同色異譜指數MI,沾色牢度,變色牢度,力份,遮蓋度,555色調分類,Munsell(C/2),黑度(My, dM),色密度CMYK,Tint（部分通過上位機實現） |
| 觀察者角度 | 2°/10° |
| 觀測光源 | D65,A,B,C,D50,D55,D75,F1,F2(CWF),F3,F4,F5,F6,F7(DLF),F8,F9,F10(TPL5),F11(TL84),F12(TL83/U30),U35,NBF,ID50,ID65,LED-B1,LED-B2,LED-B3,LED-B4,LED-B5,LED-BH1,LED-RGB1,LED-V1,LED-V2（部分通過上位機實現） |
| 顯示 | 光譜圖/數據,樣品色度值,色差值/圖,合格/不合格結果,顔色仿真,顔色偏向 |
| 測量時間 | 約1s |
| 重複性 | 色度值：MAV/SCI,标準偏差值ΔE*ab 0.025以内（預熱校正後,以間隔5s測量白闆30次平均值） 分光反射率：MAV/SCI,标準偏差0.1%以内(400~700nm：0.2%以内) |
| 台間差 | MAV/SCI,ΔE*ab 0.3以内(BCRA系列Ⅱ 12塊色闆測量平均值) |
| 顯示精度 | 0.01 |
| 反射率測定範圍 | 0-200% |
| 反射率分辨率 | 0.01% |
| 測量方式 | 單次測量,平均測量（2~99次） |
| 定位方式 | 穩定片定位+攝像頭取景定位 |
| 白闆校驗方式 | 非接觸式自動白闆校驗 |
| 尺寸 | 120*75*207mm |
| 重量 | 367g（不含校正底座） |
| 電池電量 | 锂電池,3.7V,3200mAh,8小時内8000次 |
| 照明光源壽命 | 10年大於120萬次測量 |
| 顯示屏 | TFT 真彩 3.5inch,電容觸摸屏 |
| 接口 | USB,藍牙 |
| 存儲數據 | 标樣500條,試樣15000條(一條數據可同時包括SCI/SCE),APP/PC海量存儲 |
| 軟件支持 | Android,IOS,Windows,微信小程序,鴻蒙 |
| 語言 | 簡體中文,English,繁體中文 |
| 操作溫度範圍 | 0~40℃,0~85%RH(無凝露),海拔：低於2000m |
| 存儲溫度範圍 | -20~50℃,0~85%RH(無凝露) |
| 準確性保證 | 保證一級計量合格 |
| 标準附件 | 電源适配器、數據線、說明書、品質管理軟件(官網下載)、白校正盒、保護蓋、腕帶、測量口徑 |
| 可選附件 | 微型打印機、粉末測試盒 |
| 注： | 如有變更，恕不另行通知 |
